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iPhone6とiPhone6Plusが最初のドロップテストでクラックされる

2014年9月18日木曜日午後10時8分PDTby Husain Sumra

iPhone6とiPhone6 Plusの発売がすでにいくつかの国で進行中であるため、多くの企業がデバイスのテストとベンチマークの実行を開始しています。 PhoneBuff は2つのデバイスを取り出し、落下テストを行い、それぞれを背面、側面、前面に落下させました。






iPhone 6は、側面と背面に落とすとうまくいきましたが、顔に落とすと当然のことながら苦しみました。一方、6 Plusは、側面に着地したときにひびが入りました。しかし、それはその顔に落ちたときにそれ以上のダメージをほとんど受けませんでした。

この1つのテストに基づくと、両方の電話は、「非常に耐久性がある」と説明されたiPhone 5の設計よりもパフォーマンスが悪く、以前の落下テストで同様の落下に耐えた可能性があります。標準化されたテストがなければ、決定的な結論を出すことは困難です。